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關(guān)于實(shí)驗(yàn)室期間核查
2017年03月27日期間核查是指：為保持設(shè)備校準(zhǔn)狀態(tài)的可信度，而對(duì)設(shè)備示值(或其修正值或修正因子)在規(guī)定的時(shí)間間隔內(nèi)是否保持其規(guī)定的最大允許誤差或擴(kuò)展不確定度或準(zhǔn)確度等級(jí)的一種核查。
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檢測(cè)報(bào)告中CNAS、CMA、CAL三個(gè)標(biāo)識(shí)的含義與區(qū)別
2017年03月03日CNAS標(biāo)識(shí)：該機(jī)構(gòu)通過了指中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)的認(rèn)可。 CNAS：China National Accreditation Service forConformity Assessment 中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)， "CNAS"標(biāo)識(shí)表明實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)能力和設(shè)備能力通過中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)認(rèn)可。
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液相色譜柱淺析
2017年03月03日色譜柱技術(shù)包括填料技術(shù)和裝柱技術(shù)，填料技術(shù)自不待言，填料的好壞對(duì)色譜柱分離性能和選擇性有決定性影響。裝柱技術(shù)也沒有想象中的這么簡單，不同固定相、不同粒徑、不同柱管內(nèi)徑和長度，裝柱工藝都有所不同，要裝出緊密、穩(wěn)定、均一的柱床，更多是一門藝術(shù)，需要經(jīng)驗(yàn)積累。
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線路板生產(chǎn)之沉銅工藝
2017年03月03日也許我們會(huì)奇怪，線路板的基材只有兩面有銅箔，而中間是絕緣層，那么在線路板兩面或多層線路之間它們就不用導(dǎo)通了嗎？兩面的線路怎么可以連接在一起，使電流順暢的經(jīng)過呢？
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內(nèi)審的記錄必須手寫嗎？
2017年02月24日有些實(shí)驗(yàn)室說實(shí)驗(yàn)室的內(nèi)審檢查表必須手寫，不可以打印。在評(píng)審中甚至有些評(píng)審員一定要實(shí)驗(yàn)室將原始記錄手寫，不允許電子版的原始記錄，這種說法是錯(cuò)誤的。
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PCB失效分析案例-爆板
2017年02月24日PCB作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。隨著電子信息產(chǎn)品的小型化以及無鉛無鹵化的環(huán)保要求，PCB也向高密度高Tg以及環(huán)保的方向發(fā)展。但是由于成本以及技術(shù)的原因，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中出現(xiàn)了大量的失效問題，并因此引發(fā)了許多的質(zhì)量糾紛。為了弄清楚失效的原因以便找到解決問題的辦法和分清責(zé)任，必須對(duì)所發(fā)生的失效案例進(jìn)行失效分析.
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鹽霧試驗(yàn)簡介
2017年02月17日隨著社會(huì)的發(fā)展，產(chǎn)品的可靠性越來越受關(guān)注，而很多企業(yè)產(chǎn)品需模擬海洋周邊氣候?qū)Ξa(chǎn)品造成的破壞性，于是鹽霧試驗(yàn)應(yīng)運(yùn)而生。 鹽霧試驗(yàn)是一種主要利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗(yàn)。它分為二大類，一類為天然環(huán)境暴露試驗(yàn)，另一類為人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)。人工模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)是利用一種具有一定容積空間的試驗(yàn)設(shè)備——鹽霧試驗(yàn)箱，在其容積空間內(nèi)用人工的方法，造成鹽霧環(huán)境來對(duì)產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能質(zhì)量進(jìn)行考核。它與天然環(huán)境相比，其鹽霧環(huán)境的氯化物的鹽濃度，可以是一般天然環(huán)境鹽霧含量的幾倍或幾十倍，使腐蝕速度大大提高，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)，得出結(jié)果的時(shí)間也大大縮短。
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淺談氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀的日常維護(hù)保養(yǎng)及注意事項(xiàng)
2017年02月17日.質(zhì)譜真空的確認(rèn)及撿漏 A、確認(rèn)泄漏 是否泄漏可從壓力和空氣/誰的背景圖譜進(jìn)行判斷：當(dāng)載氣流速為1ml/min時(shí)，前極壓力應(yīng)小于60mTorr,離子歸壓力小于0.07 mTorr，如果此值過大，可能泄露。 剛開機(jī)時(shí)，打開燈絲觀察m/z18,28,32,44這幾個(gè)空氣/水特征峰，不泄露，水峰是基峰；如果28的峰遠(yuǎn)高于18的峰，且與32峰的比例符合空氣中氮氧比例，則為小漏；如果28,32的峰異常高，TIC超過10８，則漏氣嚴(yán)重，請(qǐng)立即關(guān)閉的燈絲。
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簡述實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可申請(qǐng)及現(xiàn)場評(píng)審活動(dòng)
2017年02月13日1.實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可申請(qǐng)的主要過程 1.1申報(bào)的受理 1.2文件評(píng)審 1.3現(xiàn)場評(píng)審 1.4后續(xù)整改和持續(xù)改進(jìn)
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沉鎳金過程中在鎳層產(chǎn)生裂痕現(xiàn)象的分析
2017年02月10日在化學(xué)沉鎳金過程中，金與鎳進(jìn)行化學(xué)還原反應(yīng)，金水沿鎳晶體界面攻擊，存在腐蝕現(xiàn)象由輕微到嚴(yán)重，較輕微的鎳腐蝕在鎳的晶界附近發(fā)生釘狀的鎳腐蝕穿透，較嚴(yán)重的鎳腐蝕則是在鎳表面發(fā)生了大面積的鎳腐蝕穿透，嚴(yán)重者則導(dǎo)致“黑PAD” 的出現(xiàn)，伴隨有縫隙。
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Hi-pot測(cè)試“漏電流”對(duì)結(jié)果評(píng)價(jià)的作用
2017年02月10日Hi-pot測(cè)試作為判斷絕緣材料是否失效，在認(rèn)證測(cè)試，包括生產(chǎn)測(cè)試中會(huì)經(jīng)常用到。在Hi-pot測(cè)試時(shí)，我們通常會(huì)設(shè)定一個(gè)電流的限值，也就是“漏電流”限值，那么這個(gè)“漏電流”在實(shí)際的結(jié)果判定中到底起到一個(gè)什么作用呢？
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ICP光譜分析的四大干擾因素
2017年01月20日ICP光源從本質(zhì)說是由一個(gè)高溫光源（包括RF發(fā)生器及炬管等）和一個(gè)高效霧化器系統(tǒng)所組成。從ICP問世到如今的大量實(shí)踐證明，這種光源所進(jìn)行的分析其所以具有較高精度和準(zhǔn)確度，和光源中的干擾較小是分不開的。但是這并不是說它不存在干擾的問題。
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱介紹
2017年01月20日隨著科技不斷發(fā)展，我們接觸到的電子設(shè)備也越來越多，設(shè)備相關(guān)的安全問題也越來越受到重視。2016年發(fā)生的 隨著科技不斷發(fā)展，我們接觸到的電子設(shè)備也越來越多，設(shè)備相關(guān)的安全問題也越來越受到重視。2016年發(fā)生的三星Note7手機(jī)爆炸事件，讓手機(jī)巨頭三星損失了錢財(cái)，也喪失了聲譽(yù)。本文將對(duì)電子設(shè)備可靠性驗(yàn)證時(shí)所使用的恒溫恒濕試驗(yàn)箱進(jìn)行簡單的介紹。
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技術(shù)負(fù)責(zé)任人到底是干什么的？
2017年01月12日準(zhǔn)則對(duì)技術(shù)負(fù)責(zé)人要求 2016版本的《檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定評(píng)審準(zhǔn)則》對(duì)技術(shù)負(fù)責(zé)人規(guī)定: 4.2.3 檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)的技術(shù)負(fù)責(zé)人應(yīng)具有中級(jí)及以上相關(guān)專業(yè)技術(shù)職稱或同等能力，全面負(fù)責(zé)技術(shù)運(yùn)作； 質(zhì)量負(fù)責(zé)人應(yīng)確保質(zhì)量管理體系得到實(shí)施和保持;應(yīng)指定關(guān)鍵管理人員的代理人。
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EDS元素標(biāo)定及鑒別
2017年01月12日在EDS能譜測(cè)試過程中，當(dāng)兩種元素的譜峰能量很接近，以至于能譜儀對(duì)這兩個(gè)譜峰幾乎不能識(shí)別時(shí)（目前能譜儀的分辨率在133eV左右，當(dāng)兩種元素能量差異小于133eV時(shí)，能譜儀就不能識(shí)別出這兩種元素），就會(huì)造成譜峰重疊或者互相干擾。
0512-63439218
